企业简介
西安普瑞光学仪器有限公司主要从事光、机、电一体化精密测量仪器的开发、生产和销售。目前已拥有世界先进水平的表面形状精密测量仪器PR-L05系列产品，该产品采用光学干涉技术，精密测量样品的表面形状分布。它可广泛用于测量MEMS基板，半导体集成电路基板以及平板显示器面板等样品的表面三维立体形状的微细结构。
西安普瑞光学仪器有限公司的工商信息
- 6101012430826
- 916101317916566037
- 存续
- 有限责任公司(自然人投资或控股)
- 2006-07-27
- 张民芳
- 100万
- 2006-07-27 至 永久
- 西安市工商行政管理局
- 西安市高新区高新一路25号创新大厦N609号
- 光电测量仪器、数字信号处理软硬件、精密控制系统的开发及销售；纳米材料的开发、销售及咨询；商品及技术的进出口业务（但国家限定或禁止公司经营的商品及技术除外）。
西安普瑞光学仪器有限公司的专利信息
| 序号 | 公布号 | 发明名称 | 公布日期 | 摘要 |
| 1 | CN101324422A | 白光干涉测量样品表面形状精细分布的方法及其装置 | 2008.12.17 | 本发明涉及一种白光干涉测量样品表面形状精细分布的方法及装置。其方法是将一束白光分别投射到样品和参考镜 |
| 2 | CN201050978Y | 白光干涉测量样品表面形状精细分布的装置 | 2008.04.23 | 本实用新型涉及一种白光干涉测量样品表面形状精细分布的装置，由白光光源、半反半透分光镜、CCD相机、干 |
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